非晶硅与非晶硒平板探测器的不同之处

　　用平板探测器将X线信息转换成电信号，再行数字化，整个转换过程都在平板探测器内完成。不像DF或CR，没有经摄像管或激光扫描的过程，所以X线信息损失少，噪声小，图像质量好。更因成像时间短，可用于透视和实行时间减影的DSA，扩大了X线检查的范围。

　　一种平板探测器器是用于实际的平板探侧器为无定型硅碘化钝平板探测器(Amo叩hous Si—Csl flat Paneldetectors)，是在玻璃板底基上固定有低噪声的半导体材料制成的无定型硅(Amorphous Sili—con，ASi)阵列部件，其表面覆有针状碘化铯闪烁晶体(Cesium lodide，CsI—scintill(1tor)。在平板探测器内，X线信号转换成的光信号经硅阵列及光电电路转换成电信号，再转换成数字信号。

　　另一种平板探测器是在无定型硅表面覆以光电导体的硒层，使X线信号直接转换为电信号。但其转换率不高，硅材料不够稳定，不能行快速采集。此外，还有直线阵列氙微电离室组成探测器作为介质的。由于其数字x线成像具有图像质量好、成像快的特点，一直是人们研究的主要方向。

　　医疗技术的发展，使得DR系统的应用越来越普及，伴随科技的发展，国产DR设备的清晰度和成像速度越来越好，能更多造福于民。

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